بعد vnf-200 VCSEL بالقرب من حقل تحليل الخصائص المصممة خصيصا VCSEL بالقرب من حقل سطح تحليل الخصائص ، مع قياس سرعة عالية ، وارتفاع القرار البصرية ، وارتفاع دقة القياس من الخصائص . الجهاز يعتمد على طريقة الجمع بين نظام بصري مع نظام التصوير المجهري ، ويحسن تصميم وفقا لخصائص VCSEL ، ويحقق ارتفاع معدل التصوير المجهري تحليل VCSEL الإشعاع . من خلال قياس واحد ، ونحن الحصول على مجموعة ثنائية الأبعاد على سطح VCSEL ، والكشف عن نقاط سيئة ، والإضاءة البيانات ، وفي الوقت نفسه الحصول على نقطة واحدة الحجم . مجهزة برامج التحليل الخاصة ، يمكن أن تنتج تقارير الاختبار التي تلبي المعايير . هو مناسبة لأنّ سريعة ودقيقة تحليل خصائص سطح VCSEL في خط الانتاج والمختبرات .